高加速壽命試驗箱(Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗)是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設(shè)計缺陷和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
高加速壽命試驗HALT一詞是Gregg K. Hobbs 于1988年提出的。是一種利用階梯應力加諸于試品，并在早期發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品缺陷、操作設(shè)計邊際及結(jié)構(gòu)強度極限的方法。
試品通過HALT所暴露的缺陷，涉及線路設(shè)計、工藝、元部件和結(jié)構(gòu)等方面。HALT的主要目的是在產(chǎn)品設(shè)計和試產(chǎn)階段，通過試驗，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在缺陷，并加以改進和驗證，從而增加產(chǎn)品的極限值，提高其堅固性及可靠性。施加于試品的應力，包括振動、高低溫、溫度循環(huán)、電力開關(guān)循環(huán)、電壓邊際及頻率邊際測試等。
HALT試驗所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法。
它將原需花費6個月甚至1年的新產(chǎn)品可靠性試驗縮短至一周，且在這一周中所發(fā)現(xiàn)的產(chǎn)品問題幾乎與客戶應用后所發(fā)現(xiàn)的問題一致，故HALT的試驗方式已成為新產(chǎn)品上市前所必需通過的驗證。
在產(chǎn)品研制階段，為得出產(chǎn)品設(shè)計裕度和極限承載能力(破壞或損傷極限)而設(shè)計的一種試驗，它應用步進的方法給產(chǎn)品施加環(huán)境應力并檢測其性能，直到產(chǎn)品失效為止。
為提高試驗效率，所施應力并非工作環(huán)境的模擬而是加速應力，通常為高變溫率(至少應大于25°C/min)的溫度循環(huán)和多軸隨機振動，還包括有通電循環(huán)、電壓偏低、頻率偏差等電應力。高加速壽命試驗得到的應力極限值可以作為確定高加速環(huán)境應力篩選的應力量值的依據(jù)。
目前能進行高加速壽命試驗的實驗室有環(huán)境可靠性與電磁兼容試驗服務中心、航天環(huán)境可靠性試驗與檢測中心等。
